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EBSD分析技术
发布时间：2025-04-15
影响EBSD花样质量的因素:样品状态：形变、 再结晶， 组成元素;样品制备状态：机械法、 化学法、 电解法， 离子轰击;...... -
芯片失效故障定位技术-EMMI&Obirch案例
发布时间：2025-04-14
半导体芯片生产或使用过程中发现存在漏电、短路现象,1.通过外观检查,未发现半导体芯片外观有任何异常。2.对芯片做热点定位...... -
电子探针EPMA测试在电池材料元素掺杂分析应用
发布时间：2024-10-23
博仕检测提供电子探针EPMA测试服务，通过电子探针EPMA高灵敏度分析，三元材料颗粒的含量梯度和掺杂元素能够得到快速而直...... -
透射电镜TEM测试
发布时间：2024-02-27
什么是透射电镜？透射电子显微镜（Transmission Electron Microscope, 简称TEM），是一种...... -
涂镀层厚度测量-金相切片制样
发布时间：2023-12-28
在待测样品上选取有典型代表的区域， 经过镶嵌研磨抛光等制样处理， 把样品切片做成光滑平整的横断面， 再通过金相显微镜或扫...... -
一文看懂透射电镜TEM
发布时间：2023-12-07
博仕检测专业提供球差透射电镜STEM测试，形貌高分辨，选区衍射SAED,EDS mapping检测，承接企业，高校测试业...... -
一文看懂扫描电子显微镜SEM
发布时间：2023-12-07
博仕检测提供扫描电镜SEM+EDS元素检测,测试价格优惠，最快当天可出结果，测试咨询：陈工：18122487888 ，罗...... -
飞行时间二次离子质谱仪 TOF SIMS
发布时间：2023-12-01
飞行时间二次离子质谱（TOF-SIMS），也叫静态二次离子质谱，是飞行时间和二次离子质谱结合的一种新的表面分析技术。TO...... -
双束聚焦离子束FIB-SEM切片测试
发布时间：2023-10-24
近期不少客户朋友咨询博仕检测工程师，关于FIB切片分析的制样品的问题，这篇文章分享给大家，希望能帮到大家。聚焦离子束技术......
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