超声波扫描显微镜：英文名是：Scanning Acoustic Microscope，简称SAM，由于它的主要工作是超声C扫描模式，因此也简称：C-SAM、或者SAT。

超声波扫描C-SAM测试原理：

通过向被测物发射高于20KHz的高频超声波传递到工件内部，在经过两种不同材质之间界面时，由于不同材质的声阻抗不同，工件对声波的吸收和反射程度的不同，采集的反射或者穿透的超声波能量信息的变化来反应工件内部图像。主要用于观察样品内部的粘接失效、分层、裂纹、夹杂物、空洞等缺陷。

设备用途：

超声波扫描显微镜是理想的无损检测方式，广泛的应用在物料检测（IQC）、失效分析（FA）、质量控制(QC)、质量保证及可靠性(QA/REL)、研发(R&D)等领域。通过图像对比度判别材料内部声阻抗差异、确定缺陷形状和尺寸、确定缺陷方位。检测精度可达微米级别。

参考标准：IPC/JEDEC J-STD-035 1999

应用领域：

芯片、LED、PCBA、金属基板、封装IC、大功率器件IGBT、红外器件、光电传感器件、SMT贴片器件、MEMS等电子元器件

案例分享：

IC封裝失效分析