- 服务设备
- 显微CT
- 双束聚焦离子显微镜(FIB-SEM)
- 飞行时间-二次离子质谱仪 (TOF-SIMS)
- X射线光电子能谱仪XPS
- 原子力显微镜(AFM)
- 拉曼光谱仪
- X射线衍射仪XRD
- 台阶仪
- 场发射球差校正透射电镜
- 激光导热分析仪
- 剥离强度测试仪
- 推拉力测试机
- 离子污染测试仪
- 能谱仪EDS/EDX
- 金相研磨机
- 气相色谱仪GC-MS
- 台阶仪
- 动态机械分析仪DMA
- 微孔物理吸附分析仪BET
- 激光粒度分析仪
- FTIR
- ICP-OES电感耦合等离子体发射光谱仪
- xrd衍射仪
- SEM场发射扫描电镜
- TGA
- FTIR傅里叶红外光谱仪
- 纳米压痕仪
- Radiant SIG-400
- 差式扫描热分析仪(DSC)
- TGA系列热重分析仪
- 高低温湿热试验箱 GPL-3
- 高低温(湿热)试验箱 GPL-4
- 快速温度变化试验箱 GFS-400-15
- 飞行时间二次离子质谱仪
- XPS(X射线光电子能谱仪)
- 冷热冲击试验箱 TSA-101S-W
- 场发射扫描电子显微镜(SEM)
- 盐雾试验箱 SQ-800-ST
-
显微CT
发布时间:2024-07-28
一、显微CT(高分辨断层扫描三维原位表征)性能指标:1.最高空间分辨率0.5μm;2.几何+光学两级放大架构;3.支持吸......
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双束聚焦离子显微镜(FIB-SEM)
发布时间:2024-07-28
生产厂商:美国 FEI公司 型号: Helios nanolab 600 仪器性能指标:分辨率:0.9nm 电子束压:......
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飞行时间-二次离子质谱仪 (TOF-SIMS)
发布时间:2024-07-27
一、基本原理 飞行时间-二次离子质谱仪(Time of Flight Secondary Ion Mass ......
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X射线光电子能谱仪XPS
发布时间:2024-02-18
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原子力显微镜(AFM)
发布时间:2023-10-24
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拉曼光谱仪
发布时间:2023-03-13
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X射线衍射仪XRD
发布时间:2023-03-13
设备型号:日本岛津XRD-6100工作原理利用衍射原理,精确测定物质的晶体结构,进行物相分析,定性分析,定量分析,它所获......
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台阶仪
发布时间:2023-03-13
设备型号:德国布鲁克DEKTAK XT测量尺度:适用于纳米尺度的表面轮廓测量、薄膜厚度测量和平整度等精密测量应用:应用于......
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场发射球差校正透射电镜
发布时间:2023-02-16
型号:荷兰-FEI Titan Cubed Themis G2 300主要技术指标:加速电压:60-300 kV电子枪:......
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