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透射电镜TEM测试
发布时间:2024-02-27
什么是透射电镜?透射电子显微镜(Transmission Electron Microscope, 简称TEM),是一种......
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涂镀层厚度测量-金相切片制样
发布时间:2023-12-28
在待测样品上选取有典型代表的区域, 经过镶嵌研磨抛光等制样处理, 把样品切片做成光滑平整的横断面, 再通过金相显微镜或扫......
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一文看懂透射电镜TEM
发布时间:2023-12-07
博仕检测专业提供球差透射电镜STEM测试,形貌高分辨,选区衍射SAED,EDS mapping检测,承接企业,高校测试业......
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一文看懂扫描电子显微镜SEM
发布时间:2023-12-07
博仕检测提供扫描电镜SEM+EDS元素检测,测试价格优惠,最快当天可出结果,测试咨询:陈工:18122487888 ,罗......
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飞行时间二次离子质谱仪 TOF SIMS
发布时间:2023-12-01
飞行时间二次离子质谱(TOF-SIMS),也叫静态二次离子质谱,是飞行时间和二次离子质谱结合的一种新的表面分析技术。TO......
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双束聚焦离子束FIB-SEM切片测试
发布时间:2023-10-24
近期不少客户朋友咨询博仕检测工程师,关于FIB切片分析的制样品的问题,这篇文章分享给大家,希望能帮到大家。聚焦离子束技术......
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离子研磨CP-SEM在锂电池电极材料分析的应用
发布时间:2023-09-11
氩离子抛光+高分辨电镜 CPSEM在锂电池领域的应用情况氩离子抛光CP-SEM凭借其大面积制样、高精度、高还原度等优势在......
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一文看懂氩离子抛光制样
发布时间:2022-09-29
氩离子抛光制样原理:氩离子抛光又叫离子研磨CP ,离子研磨法是利用通过电场加速过的离子轰击样品表面,在样品表面产生溅射效......
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