透射电子显微镜（简称透射电镜，TEM）是一种高分辨力、高放大倍数的显微镜，它用聚焦电子束作为照明光源，使用对电子电子束透明的薄膜试样（几十到几百纳米，甚至到埃米级别），以透射电子为成像信号。TEM是观察和分析材料的形貌、组织和结构的有效工具，可实现微区物像分析、高的图像分辨率和立体丰富的信息。

透射电子显微镜是电子显微镜的原始类型，它的主要原理是将高压电子束引导至样品以照亮样品并产生样品的放大图像。由于透射电镜具有原位观察、高分辨显像等功能，适宜观察光学显微镜观察不到的细微结构。比如：细胞、组织分析、晶体结构等。

透射电镜显微成像原理是：通过钨丝电极的阴极发射电子束，再用阳极加速电子束，当电子束穿过标本时，它会发生散射，并提供标本微观结构的图像，可以通过显微镜的物镜观察到。其中的静电和电磁透镜均有助于电子束的聚焦。

可以通过将图像投影到荧光硫化锌涂层屏幕上来检查空间变化。可用于记录图像的另一种方法是将照相胶片放入电子束中，电子束将记录图像。也可以使用数码相机在计算机屏幕上实时显示图像。球面像差传统上限制了透射电子显微镜的分辨率。然而，近些年来的技术改进，可以通过球面像差的硬件校正来提高分辨率。因此，现在可以生成分辨率低于 0.5 埃、放大倍率超过 5000 万倍的图像。

透射显微镜适宜的样品厚度，通常小于 100 nm。因此，大多数生物标本需要经过化学固定和脱水，才能嵌入聚合物树脂中，以方便 TEM的观察。

透射电镜功能:

电子图像（正空间信息）

直接观察微观形貌、粒径、结构缺陷、晶相分布、组成物质的原子团（结构像）或原子（原子像）

电子衍射（倒空间信息）

晶体结构分析，晶体缺陷分析

成分分析

X射线能谱（EDS）；

特征电子能量损失谱（EELS）

电子全息

磁性钴颗粒的电子全息图

三维重构

原位技术

原位研究物质的生长和化学反应；

原位研究物质性质；

纳米制造和单原子操纵；

制备纳米器件；

博仕检测透射电镜TEM测试案例分享：

玻璃表面的多镀层结构：

不同晶格结构的高分辨图像HRTEM：