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飞行时间二次离子质谱仪 TOF SIMS测试
发布时间：2023-10-24
飞行时间二次离子质谱（TOF-SIMS），也叫静态二次离子质谱，是飞行时间和二次离子质谱结合的一种新的表面分析技术。TO...... -
积分球测试
发布时间：2023-10-24
设备型号：1.电参数正向电压（VF） V漏电流（IR） mA正向电流（IF） mA反向电压（VR） V测试电流（I...... -
XPS测试
发布时间：2023-08-24
表面分析技术是通过研究微观粒子与表面的相互作用获得表面信息，研究物质表面的形貌、化学组成、原子结构、原子态等信息；目前常...... -
超声波扫描显微镜 （SAT/C-SAM）
发布时间：2023-02-14
超声波扫描显微镜C-SAM测试原理：通过向被测物发射高于20KHz的高频超声波传递到工件内部，在经过两种不同材质之间界面...... -
气相色谱–质谱GCMS测试
发布时间：2022-11-15
气相色谱–质谱联用仪（GC-MS)结合气相色谱和质谱的特性，可在试样中鉴别不同物质，实时采集功能提供了全扫描与选择离子扫...... -
低阻测试系统
发布时间：2022-11-10
设备型号：2750（Keithley）设备能力：0-100MΩ准确度：±1.0%... -
特性阻抗测试仪
发布时间：2022-11-05
设备型号：DSA8300（TEK)设备能力：0-300Ω准确度：45-85Ω：±1% Other...... -
高阻计
发布时间：2022-11-05
设备型号：4339B（Agilent）设备能力：10^5-10^16Ω准确度：10^5-10^16Ω: ±0.6% ...... -
直流低电阻测试仪
发布时间：2022-11-05
设备型号：RM3545（HIOKI）设备能力：0.00μΩ-1200MΩ准确度：±0.2%...
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