设备型号：TSA-101S-W

设备技术参数：

温度范围：-70~0℃ +60~200℃

内箱尺寸：650mm*460mm*370mm

用途：

冷热冲击试验用来测试材料结构或复合材料，在瞬间下经高温、低温的连续环境下所能忍受的程度，适用电工、电子产品、半导体、电子线路板、金属材料等各种材料在温度急剧变化环境下的适应性。在研制阶段可用于发现产品设计和工艺缺陷，在有些情况下也可用于环境应力筛选，剔除产品的早期故障。试验的严苛程度取决于高低温范围，驻留时间，温度转换时间，循环数。

认证标准：

满足GB/T2423.22（IEC60068-2-14）；ISO16750；IPC-TM-650；JESD22等 系列标准中的温度冲击试验。

冷热冲击试验用来测试材料结构或复合材料，在瞬间下经高温、低温的连续环境下所能忍受的程度，适用电工、电子产品、半导体、电子线路板、金属材料等各种材料在温度急剧变化环境下的适应性。在研制阶段可用于发现产品设计和工艺缺陷，在有些情况下也可用于环境应力筛选，剔除产品的早期故障。试验的严苛程度取决于高低温范围，驻留时间，温度转换时间，循环数。